来源:新浪证券-红岸工作室
9月2日消息,国家知识产权局信息显示,合肥晶合集成电路股份有限公司申请一项名为“一种置物架”的专利,授权公告号CN224703519U,授权公告日为2026年9月1日。申请号为CN202522267075.2,申请公布日期为2026年9月1日,申请日期为2025年10月27日,发明人殷海燕、丁俊俊、吕侃、杜晗玥,专利代理机构上海思微知识产权代理事务所(普通合伙),专利代理师曹廷廷,分类号B65D25/04、B65D61/00、B65D25/20、B65D25/24。
专利摘要显示,本实用新型提供了一种置物架,包括框架、多个承载板、引流挡部和收集器;框架有置物空间,并包括引流立柱;引流立柱上设有排液槽,排液槽具有朝向置物空间的第一开口;多个承载板设于置物空间,并沿竖直方向间隔排布,且与框架连接;承载板具有两个目标边缘,两个目标边缘相交形成朝向第一开口的目标顶角;承载板的上表面是承载面,承载面相对于水平面倾斜,承载面的最低处位于目标顶角,并形成出口区域;引流挡部设于目标边缘,且位于出口区域外,引流挡部凸出于承载面;收集器设在排液槽的下方,并与排液槽连通。置物架在无尘室内暂存化学机械研磨工艺中报废的耗材,增加存放的耗材的量、减少耗材上残留的研磨液对无尘室造成污染的可能性。
晶合集成是国内领先的专注于显示驱动芯片领域的12英寸晶圆代工企业,具备较强的工艺技术积累与规模化生产优势。公司成立于2015年5月19日,于2023年5月5日登陆上海证券交易所,注册地为安徽省合肥市,办公地覆盖安徽省合肥市与中国香港特别行政区。
晶合集成隶属于申万行业电子-半导体-集成电路制造赛道,核心主营业务为12英寸晶圆代工业务,聚焦研发应用行业先进工艺,可向客户提供覆盖多种制程节点、不同工艺平台的晶圆代工服务,同时布局MCU概念、集成电路、汽车芯片相关概念板块。
2026年上半年,晶合集成实现营业收入59.57亿元,在所属7家同行业企业中排名第4,当期行业头部企业中芯国际、华虹宏力营收分别达386.35亿元、95.74亿元,行业平均营收为93.45亿元,行业营收中位数为59.57亿元;营收结构中集成电路业务贡献57.66亿元,占比96.80%,其他补充业务贡献1.91亿元,占比3.20%。同期公司实现净利润2.22亿元,同样在7家同行业企业中位列第4,行业内中芯国际、赛微电子分别以64.39亿元、26.75亿元的净利润位列前二,行业平均净利润为14.11亿元,行业净利润中位数为2.22亿元。
| 指标类型 | 具体指标 | 晶合集成当期数值 | 行业排名/总家数 | 行业头部企业数值 | 行业平均数 | 行业中位数 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 营业收入 | 2026年上半年营收 | 59.57亿元 | 4/7 | 中芯国际386.35亿元、华虹宏力95.74亿元 | 93.45亿元 | 59.57亿元 |
| 营收构成 | 集成电路业务营收及占比 | 57.66亿元,占比96.80% | - | - | - | - |
| 营收构成 | 其他补充业务营收及占比 | 1.91亿元,占比3.20% | - | - | - | - |
| 净利润 | 2026年上半年净利润 | 2.22亿元 | 4/7 | 中芯国际64.39亿元、赛微电子26.75亿元 | 14.11亿元 | 2.22亿元 |
合肥晶合集成电路股份有限公司近期专利情况如下:
| 序号 | 专利名称 | 专利类型 | 法律状态 | 申请号 | 申请日期 | 公开(公告)号 | 公开(公告)日期 | 发明人 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 提高微小划痕区分度的缺陷自动分类方法及系统 | 发明专利 | 公布 | CN202611176340.9 | 2026-08-05 | CN122675867A | 2026-09-01 | 崔恒丽、张利强、马春雨、李佛富、林今焕 |
| 2 | 一种半导体结构及其制造方法 | 发明专利 | 公布 | CN202611176742.9 | 2026-08-05 | CN122679713A | 2026-09-01 | 陈维邦 |
| 3 | 一种静态随机存储器芯粒的失效分析方法及分析系统 | 发明专利 | 公布 | CN202611169657.X | 2026-08-04 | CN122676895A | 2026-09-01 | 张翼、储浩、丁敬祖、马学杨、邢佳乐 |
| 4 | 晶体管制备方法、晶体管及电子设备 | 发明专利 | 公布 | CN202611164387.3 | 2026-08-03 | CN122662269A | 2026-08-28 | 张盖、罗钦贤、吴明晏、南子昱、王雪 |
| 5 | 半导体测试结构及测试方法 | 发明专利 | 公布 | CN202611150791.5 | 2026-07-31 | CN122652240A | 2026-08-28 | 马盟、鲍丙辉、李倩娣 |
| 6 | 一种Fin FET器件及其制造方法 | 发明专利 | 公布 | CN202611147204.7 | 2026-07-30 | CN122662243A | 2026-08-28 | 李猛猛、唐鹏飞、魏巍 |
| 7 | 一种校正方法、计算机可读存储介质及光刻机 | 发明专利 | 公布 | CN202611141368.9 | 2026-07-30 | CN122652910A | 2026-08-28 | 李海峰、赵志豪、张祥平、黄玉 |
| 8 | 基于图形轮廓顶点匹配的GDS版图对比方法及系统 | 发明专利 | 公布 | CN202611132347.0 | 2026-07-29 | CN122637020A | 2026-08-25 | 刘苑、查乐、田姿璘 |
| 9 | 量测标记识别方法、装置、计算机设备、可读存储介质 | 发明专利 | 公布 | CN202611122711.5 | 2026-07-28 | CN122675852A | 2026-09-01 | 朱海龙 |
| 10 | 半导体结构及其制备方法 | 发明专利 | 公布 | CN202611116631.9 | 2026-07-27 | CN122641036A | 2026-08-25 | 张君良、江澳、田贝贝、谢智宇、王韦顺 |
| 11 | 一种SRAM噪声边缘分析方法及装置、系统、存储介质 | 发明专利 | 公布 | CN202611115006.2 | 2026-07-27 | CN122637856A | 2026-08-25 | 田志锋 |
| 12 | 基于场景的根因预测模型训练方法、装置、设备、介质和程序产品 | 发明专利 | 公布 | CN202611100269.6 | 2026-07-23 | CN122616744A | 2026-08-21 | 崔恒丽、张利强、俞洁、林今焕 |
| 13 | 半导体器件的形成方法和半导体器件 | 发明专利 | 公布 | CN202611088837.5 | 2026-07-22 | CN122622329A | 2026-08-21 | 王淑娜、宋富冉、刘乃硕 |
| 14 | 半导体结构制备方法及半导体结构 | 发明专利 | 公布 | CN202611091082.4 | 2026-07-22 | CN122622285A | 2026-08-21 | 胡一凡 |
| 15 | 半导体器件结构及其制备方法 | 发明专利 | 公布 | CN202611090819.0 | 2026-07-22 | CN122622310A | 2026-08-21 | 刘洋、李琦琦、祝君龙 |
| 16 | 埋入式栅极结构及制备方法 | 发明专利 | 公布 | CN202611065450.8 | 2026-07-17 | CN122602562A | 2026-08-18 | 江珂、林祐丞、杨智强 |
| 17 | 半导体器件及其制造方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202611057378.4 | 2026-07-16 | CN122579645A | 2026-08-14 | 刘苏涛 |
| 18 | 离子注入工艺光阻层厚度的安全性验证方法及选择方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202611022452.9 | 2026-07-10 | CN122535230A | 2026-08-07 | 夏陈红、程挚 |
| 19 | 对准系统校正方法、基准点标记板及其制作方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202611016741.8 | 2026-07-09 | CN122535209A | 2026-08-07 | 毛文龙、李海峰、黄玉、吴建宏 |
| 20 | 光学邻近效应修正方法及装置、半导体器件制造方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202611016093.6 | 2026-07-09 | CN122525844A | 2026-08-07 | 赵广、罗招龙 |
| 21 | 半导体物料的动态存储方法、装置、设备、介质 | 发明专利 | 公布 | CN202611016172.7 | 2026-07-09 | CN122596837A | 2026-08-18 | 卫春生、汪杰、李翔、曹齐清、严倩倩、李佳蓓、张乐、蔡栋煌 |
| 22 | 半导体工厂的高处作业行为识别方法、装置和设备 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202611009342.9 | 2026-07-08 | CN122510972A | 2026-08-04 | 毛周亮、夏慧、徐旻芮、黄俊旗、李天定 |
| 23 | 半导体器件的制备方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202611000593.0 | 2026-07-07 | CN122514031A | 2026-08-04 | 刘苏涛 |
| 24 | 一种含有间隔交叉空气间隙的半导体器件及其制造方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202611001373.X | 2026-07-07 | CN122514244A | 2026-08-04 | 崔立加、余义祥、王梦晴、李敏新 |
| 25 | 图像传感器及其制造方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202611001464.3 | 2026-07-07 | CN122514061A | 2026-08-04 | 康绍磊、汪凯伦 |
| 26 | 对准标记的异常检测方法及提高光刻工艺套准精度的方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202611002015.0 | 2026-07-07 | CN122506782A | 2026-08-04 | 陈大业、李海峰、黄玉 |
| 27 | 一种半导体器件的制作方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610999508.X | 2026-07-07 | CN122514030A | 2026-08-04 | 武莹莹 |
| 28 | 面向设计-制造的多智能体协同方法、系统及电子设备 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610992342.9 | 2026-07-06 | CN122509026A | 2026-08-04 | 陈健、秦绪威、刘哲儒 |
| 29 | 晶圆测试路径的规划方法、装置、探针台、设备及介质 | 发明专利 | 公布 | CN202610986471.7 | 2026-07-03 | CN122497321A | 2026-07-31 | 王朋、杨锃、李飞 |
| 30 | 半导体器件的制备方法和场效应晶体管 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610984748.2 | 2026-07-03 | CN122579681A | 2026-08-14 | 江涛、喻志珩 |
| 31 | 一种背照式图像传感器晶圆键合方法及背照式图像传感器 | 发明专利 | 公布 | CN202610976510.5 | 2026-07-02 | CN122476835A | 2026-07-28 | 沈娅、许超、杨少华 |
| 32 | 测量混合键合强度的方法、监测机台稳定性的方法及系统 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610970010.0 | 2026-07-01 | CN122476885A | 2026-07-28 | 伍德超、陶磊、梁健 |
| 33 | 一种背照式图像传感器及其制作方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610968214.0 | 2026-07-01 | CN122476695A | 2026-07-28 | 张庆庆、谢荣源、宋明明、温海龙 |
| 34 | 半导体器件及其制备方法 | 发明专利 | 公布 | CN202610967959.5 | 2026-07-01 | CN122476654A | 2026-07-28 | 周同、王维安、程洋 |
| 35 | 一种金属硅化物的形成方法及半导体结构 | 发明专利 | 公布 | CN202610966312.0 | 2026-07-01 | CN122476658A | 2026-07-28 | 刘苏涛 |
| 36 | 一种半导体器件及其制作方法 | 发明专利 | 公布 | CN202610966313.5 | 2026-07-01 | CN122476669A | 2026-07-28 | 李燕、宋富冉、王淑娜、刘乃硕 |
| 37 | 半导体结构及其制作方法 | 发明专利 | 公布 | CN202610959576.3 | 2026-06-30 | CN122476903A | 2026-07-28 | 魏榕、沐凡、韩壮壮、季小龙、张正 |
| 38 | 半导体结构及其制作方法 | 发明专利 | 公布 | CN202610959724.1 | 2026-06-30 | CN122476904A | 2026-07-28 | 马亚强、张正、季小龙、韩壮壮、魏榕 |
| 39 | 一种半导体结构的制作方法 | 发明专利 | 公布 | CN202610953205.4 | 2026-06-30 | CN122476657A | 2026-07-28 | 江道、林豫立、刘哲儒 |
| 40 | 一种半导体器件制备方法、半导体器件和图像传感器 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610941777.0 | 2026-06-29 | CN122476834A | 2026-07-28 | 伍德超、郝小强 |
| 41 | 测试结构、测试方法及测试系统 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610925895.2 | 2026-06-25 | CN122487862A | 2026-07-31 | 王朋、杨锃、李飞 |
| 42 | 曝光场间的对准标记及其形成方法、封测工艺 | 发明专利 | 公布 | CN202610902754.9 | 2026-06-23 | CN122431066A | 2026-07-21 | 张传稳、陈晓妍、於飞飞 |
| 43 | 晶圆生产工艺流程管控方法、电子设备和存储介质 | 发明专利 | 公布 | CN202610902753.4 | 2026-06-23 | CN122453119A | 2026-07-24 | 黄柱、檀明伟、沈统一、范夏玲 |
| 44 | 光掩模版设计图形的处理方法、处理装置及存储介质 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610894083.6 | 2026-06-22 | CN122410885A | 2026-07-17 | 殷诗淇、罗招龙、王康 |
| 45 | 半导体结构及其制备方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610893210.0 | 2026-06-22 | CN122438361A | 2026-07-21 | 章航、郭哲劭、郭廷晃、薛翔、宋明 |
| 46 | 一种半导体结构的制作方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610893494.3 | 2026-06-22 | CN122438556A | 2026-07-21 | 牛苗苗、高志杰 |
| 47 | 一种晶圆键合方法及键合晶圆 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610882602.7 | 2026-06-18 | CN122421814A | 2026-07-17 | 伍德超、郝小强、梁健、张立弟、张天阳 |
| 48 | 半导体器件及其制备方法、芯片 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610888879.0 | 2026-06-18 | CN122421383A | 2026-07-17 | 宋明、郭哲劭、郭廷晃 |
| 49 | 一种二极管的测量结构、测量方法及集成电路 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610873754.0 | 2026-06-17 | CN122396281A | 2026-07-14 | 张立涛、姚子凤、张倩、方昕、郑启涛 |
| 50 | 一种半导体结构及其制备方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610874647.X | 2026-06-17 | CN122396131A | 2026-07-14 | 周成 |