联合光科申请微晶玻璃面板表面缺陷检测系统专利，有效解决特征混淆问题_资讯

联合光科申请微晶玻璃面板表面缺陷检测系统专利，有效解决特征混淆问题

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2026-03-03 21:15:44

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国家知识产权局信息显示，联合光科（上海）技术有限公司申请一项名为“一种基于微晶玻璃面板成品的表面缺陷检测系统”的专利，公开号CN121595587A，申请日期为2025年12月。

专利摘要显示，本发明公开了一种基于微晶玻璃面板成品的表面缺陷检测系统，涉及表面缺陷检测技术领域，包括缺陷全维度动态状态图谱构建模块；缺陷全维度动态状态图谱构建模块用于构建并实时更新包含缺陷三维坐标信息、多模态特征置信度信息、虚拟‑实体参数偏差信息和特征清晰度‑配准精度联动阈值信息的缺陷全维度动态状态图谱；结构光三维轮廓采集模块用于采集微晶玻璃面板表面的三维轮廓数据；多模态特征融合模块用于采集多光源成像的二维图像数据并提取多模态特征信息；数字孪生虚拟调试模块用于基于缺陷全维度动态状态图谱构建虚拟检测环境；本发明有效解决了现有多光源切换系统中因光源组合逻辑固化而导致的特征混淆问题。

天眼查资料显示，联合光科（上海）技术有限公司，成立于2016年，位于上海市，是一家以从事非金属矿物制品业为主的企业。企业注册资本1677.9118万人民币。通过天眼查大数据分析，联合光科（上海）技术有限公司共对外投资了3家企业，参与招投标项目59次，财产线索方面有商标信息4条，专利信息51条，此外企业还拥有行政许可7个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

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